Магнитографический метод неразрушающего контроля ферромагнитных изделий

list 1.cdw

Рисунок 2 - Зависимость
от индукции в контролируемом сечении
Рисунок 3 - Зависимость d
dB от индукции в контролируемом сечении
Рисунок 4 - Зависимость d
Белорусско-Российский
университет гр. ПС-011
Рисунок 1 - Кривая намагничивания материала изделия

list 2 2.cdw

Белорусско-Российский
университет гр. ПС-011

list 2 22.cdw

Белорусско-Российский
университет гр. ПС-011

list 2.cdw

kurs.doc

Современное состояние производства в передовых странах мира
предполагает наличие эффективных методов неразрушающего контроля. В
настоящее время для обнаружения поверхностных и подповерхностных трещин в
ферромагнитных изделиях (гибы труб опоры и оси вагонов лопатки турбин
кольца подшипников несущие конструкции летательных аппаратов и т.д.) в
основном применяют магнитопорошковый метод. Он хотя и позволяет получить
наглядную картину распределения дефектов однако требует тщательной и
трудоемкой зачистки поверхности изделий. Это приводит к большим затратам
при обнаружении нарушений сплошности металла.
Весьма перспективным методом неразрушающего контроля является
магнитографический имеющий высокую чувствительность по отношению к
наиболее опасным дефектам – трещинам и стянутым непроварам. Однако он имеет
не всегда высокую мобильность и недостаточно широкую область применения
из–за массивности намагничивающих устройств их громоздкости необходимости
зачастую изготовления дополнительных полюсных наконечников к
электромагнитам требования мощных источников питания. Значительным шагом
вперед явился разработанный ранее на кафедре «Физические методы контроля»
Белорусско-Российского университета способ магнитографического контроля
изделий на наличие дефектов в котором для намагничивания применяют
Характеристика объекта контроля и постановка задачи
В данной курсовой работе необходимо разработать устройство и методику
магнитного контроля труб.
Объектом контроля является гиб трубы материал трубы – сталь 20
толщина стенки - 8 мм радиус гиба трубы – 500 мм диаметр трубы – 219 мм.
Трещины располагаются на наружной (выпуклой) части гиба и ориентированы
вдоль оси. Недопустимы трещины раскрытием более 5 мкм.
Обоснование выбора метода контроля
При проведении контроля технического состояния сложных систем и
агрегатов одной из актуальных является задача объективного и своевременного
обнаружения дефектов различной природы и организация контроля за развитием
дефектов из-за старения элементов при эксплуатации.
Одним из путей предотвращения нежелательных последствий от эксплуатации
изделий с дефектами является систематическое использование методов
неразрушающего контроля. Дефектом называется каждое отдельное
несоответствие продукции требованиям нормативно-технической документации.
Обычно под дефектом понимают отклонение параметра от требований проектно-
конструкторской документации выявленное средствами неразрушающего
Выбор метода неразрушающего контроля должен учитывать и такие факторы
как условия работы изделия форма и размеры объекта физические свойства
материала условия контроля и наличие подходов к проверяемому объекту
технические условия на изделия содержащие количественные критерии
недопустимости дефектов и зачастую нормирующие применение методов контроля
на конкретном изделии чувствительность методов.
Достоверность результатов определяется чувствительностью методов
неразрушающего контроля выявляемостью и повторяемостью результатов.
Чувствительность метода контроля является важной его характеристикой.
Каждый вида неразрушающего контроля обладает своими особенностями
поэтому необходимо провести анализ всех видов неразрушающего контроля для
качественного решения поставленной задачи.
Проанализируем различные методы неразрушающего контроля с точки зрения
возможности их применения для обнаружения дефектов в гибах труб.
Остановимся более подробно на анализе акустических вихретоковых
радиационных и магнитных методов контроля.
Акустический вид неразрушающего контроля основан на регистрации
параметров упругих волн возникающих или возбуждаемых в объекте. К основным
преимуществам ультразвуковой дефектоскопии относятся высокая
чувствительность мобильность аппаратуры оперативность в получении
результатов низкая стоимость контроля. Методы широко распространены в
промышленности для выявления дефектов: трещин непроваров шлаковых
включений в сварных швах. Основными недостатками акустических методов
являются высокие требования к чистоте обработки поверхности объекта
контроля трудность создания надежного акустического контакта между
преобразователем и изделием имеющим криволинейную поверхность
неудовлетворительная выявляемость дефектов в поверхностном слое металла.
Последнее особенно важно при контроле тонкостенных изделий так как в этом
случае могут быть пропущены дефекты значительной величины (по отношению к
толщине стенки изделия) которые сильно ослабляют контролируемое сечение
Радиационный вид неразрушающего контроля основан на регистрации и
анализе проникающего излучения после взаимодействия его с контролируемым
объектом. Методы радиационной дефектоскопии могут успешно применятся для
обнаружения несплошностей в ответственных металлоконструкциях. Наиболее
чувствительны они по отношению к объемным дефектам (поры шлаковые
включения). Однако обнаружение узких трещин особенно ориентированных под
углом к лучу просвечивания при этом не гарантируется. Кроме того контроль
радиационными методами имеет высокую стоимость и не всегда высокую
производительность.3
Вихретоковый вид неразрушающего контроля основан на анализе
взаимодействия электромагнитного поля вихретокового преобразователя с
электромагнитным полем вихревых токов наводимых в контролируемом объекте.
Его применяют только для контроля изделий из электропроводящих материалов.
Вихретоковый вид позволяет выявить поверхностные и подповерхностные трещины
глубиной 01 02 мм и протяженностью более 1мм расположенные на глубине до
мм. На чувствительность значительное влияние оказывает зазор между
преобразователем и поверхностью контролируемого изделия а также взаимное
расположение преобразователя и изделия форма и размеры объекта контроля. С
увеличением зазора чувствительность метода резко падает. Существенно
снижает чувствительность метода к обнаружению дефектов и структурная
неоднородность зоны контроля 2.
Магнитные методы контроля основаны на обнаружении магнитных полей
рассеяния возникающих при наличии различных дефектов сплошности в
намагниченных изделиях из ферромагнитных материалов. Поля рассеяния могут
фиксироваться с помощью различных индикаторов и преобразователей:
магнитного порошка магнитной ленты индукционного преобразователя и т.д.
Магнитопорошковый контроль состоит из следующих операций: подготовки
детали к контролю намагничивания детали нанесения па деталь магнитного
порошка или суспензии осмотра детали разбраковки и размагничивания.
Подготовка детали к контролю заключается в очистке поверхности детали
от отслаивающейся ржавчины грязи а также от смазочных материалов и масел
если контроль проводится с помощью водной суспензии или сухого порошка.
Если поверхность детали темная и черный магнитный порошок на ней плохо
виден то деталь иногда покрывают тонким просвечивающим слоем белой краски
(обычно нитролаком).
Как правило защитные покрытия на деталях небольшой толщины не ухудшают
условий контроля за исключением электроизоляционных покрытий который
мешают пропусканию тока через деталь. В этом случае контроль проводят до
нанесения покрытия или удалив покрытие с части детали или не пропуская ток
через деталь. Если толщина покрытий от 20 до 150 мкм то применяют
специальные режимы контроля.
Значительным недостатком магнитопорошкового метода контроля является
стекание суспензии с поверхности объекта контроля.
При контроле ферромагнитных объектов достаточно широко применяют
магнитографический метод контроля. В этом случае магнитные потоки
рассеяния обусловленные дефектами сплошности металла записываются на
магнитную ленту. Лента выполняет двойную роль: сначала служит индикатором
поля дефекта фиксируя это первичное исходное поле в виде
пространственного распределения остаточной намагниченности рабочего слоя а
затем сама становится источником вторичного отображенного магнитного поля
которое в свою очередь считывается еще одним индикатором. Соответственно
этому магнитографический контроль состоит из двух процессов: записи и
считывания. Для первого процесса необходимы устройства намагничивания (чаще
всего электромагниты) и крепления ленты на изделии для второго –
считывающие устройства (собственно дефектоскопы). Возможно объединение
указанных процессов в едином устройстве.4
Магнитографический метод контроля имеет ряд достоинств: высокую
чувствительность (особенно к поверхностным и подповерхностным дефектам)
высокую производительность наличие документа свидетеля о контроле низкие
требования к чистоте контролируемой поверхности 3.
Таким образом анализ неразрушающих методов контроля показал что
наиболее приемлемым для обнаружения дефектов в гибах труб является
магнитографический метод контроля т.к. он не требует тщательной и
трудоемкой зачистки контролируемой поверхности в отличие от
магнитопорошкового и акустического методов контроля что значительно
снижает время затрачиваемое на контроль. Также еще магнитографический
метод обладает высокой чувствительностью и производительностью.
Анализ литературных источников с целью выбора способа контроля
Под предельной чувствительностью метода контроля понимают наименьшие
размеры эталонной модели дефекта уверенно обнаруживаемого при заданной
настройке аппаратуры. Реальная чувствительность характеризует наименьшие
размеры реального дефекта обнаруживаемого в контролируемом объекте.
Считается что дефект обнаруживается уверенно если отношение амплитуд
сигнал-шум не менее 2. При магнитографическом контроле рекомендуют объект
контроля намагничивать в поперечном направлении т. к. вектор напряженности
внешнего поля будет ориентирован перпендикулярно направлению
распространения дефектов и их выявляемость поэтому будет наилучшей. 7
На магнитную ленту в процессе магнитографического контроля стыковых
сварных соединений (при поперечном намагничивании) записывается в основном
суперпозиция магнитных полей следующих видов:
- тангенциальные составляющие внешнего намагничивающего поля Н((;
Для уверенного обнаружения дефектов создающих поля рассеяния
совпадающие с краем валика шва в 8 предложено дополнительно проводить
контроль при режиме 0 2 Нс ( Н(п ( 04 Нс где Нс - коэрцитивная сила
ленты. При этом помехи обусловленные валиком шва не создают магнитного
контраста записи на ленте т.к. в этом случае магнитная лента работает на
участке обратимого намагничивания ее характеристики.
В 9 на ленту перед укладкой на изделие воздействуют полем заданной
напряженности направление которого совпадает с рабочим а величина равна
сумме внешнего поля и поля рассеяния от наибольшего допустимого дефекта. В
предлагаемом способе контроля поляризованную ленту вначале намагничивают
полем заданной напряженности (при этом ее перемагничивание происходит по
кривой OCD (рисунок 3.1) а затем совместно с изделием - полем рабочей
напряженности Нр (перемагничивание по кривой ОAD). На ленту воздействует
также поле помех Нп подмагничивая отдельные ее участки до точки С и поля
дефектов подмагничивая ее до точки Е. После прекращения действия
намагничивающего поля участки ленты не подвергавшиеся действию полей помех
и полей дефектов приобретают остаточную намагниченность соответствующую
точке D (перемагничивание происходит по пунктирной линии AD); такую же
намагниченность приобретают участки ленты в местах действия полей помех Нп
(перемагничивание по кривой CD). Контраст записи полей помех равен нулю.
Контраст записи на участках ленты подвергшихся действию полей дефектов
равен (Мd. Таким образом отношение амплитуд сигнал-шум стремится к
бесконечности (приборные шумы не учитываются).
Для повышения чувствительности контроля изделий когда амплитуда
полезного сигнала незначительно превышает амплитуду сигнала от наибольшего
допустимого дефекта а фон помех меньше сигналов от наибольшего допустимого
дефекта в 10 предложен следующий способ магнитографического контроля.
Перед оценкой качества изделия на магнитограмме ленту намагничивают по
участкам с равными по амплитуде помехами дополнительным полем направление
которого совпадает с направлением поля рабочей напряженности а величина
меньше суммы поля рабочей напряженности и поля от наибольшего допустимого
дефекта. При осуществлении этого способа поляризованная магнитная лента
прижатая к изделию под действием поля рабочей напряженности Нр
перемагничивается по сплошной кривой OCD. При этом участки ленты на
которые воздействуют также поля помех Нп меньше поля наибольшего
допустимого дефекта Нпd перемагничиваются по сплошной кривой OCEF а
участки на которые действуют поля недопустимых дефектов Нd - по кривой
OCEJGH1. Затем на ленту снятую с объекта контроля воздействуют
дополнительным полем напряженности Нд равным сумме поля рабочей
напряженности и помех меньших поля наибольшего допустимого дефекта Нпd.
При этом участки ленты находившиеся только под действием поля рабочей
напряженности перемагничиваются по кривой DPCEF а участки ленты
находившиеся под действием полей помех Нп по кривой FREF. Таким образом
контраст магнитной записи поля дефекта определяется отрезком H1F (большим
чем в предыдущем случае). При традиционном же способе магнитографического
контроля с использованием поляризованной магнитной ленты объект контроля
вместе с лентой намагничивают полем рабочей напряженности Нр (рисунок 3.1).
Рисунок 3.1 – Пояснение способа магнитографического контроля
В этом случае вся лента перемагничивается по кривой OCD а ее
участки находившиеся под действием полей дефектов Нd - по кривой OGH1. Те
участки на которые воздействовало внешнее поле и поля-помехи
перемагничиваются по кривой OEF. Тогда контраст записи на ленте полей
дефектов будет определяться отрезком DH1 а полей-помех - DF. Отношение
амплитуд сигнал-шум будет равно DH1DF.
В 11 для повышения достоверности контроля за счет определения его
раскрытия изделие намагничивают дважды регистрируя поле дефекта при
различных значениях напряженности поля. Раскрытие дефекта определяют по
относительному изменению поля дефекта и градуировочной зависимости. Для
повышения удобства производительности и мобильности магнитографического
контроля ферромагнитных объектов на наличие поверхностных дефектов
снижения потребления электроэнергии расширения области применения метода
за счет возможности контроля труднодоступных мест небольших деталей а так
же объектов находящихся во взрывоопасных помещениях шахтах под водой и
т. д. осуществлять намагничивание контролируемого изделия вместе с плотно
прижатой к его поверхности магнитной лентой постоянным магнитом путем
перемещения его полюса непосредственно по поверхности ленты.
Высокая чувствительность метода при малой массе магнита (40(50 г)
достигается за счет значительного увеличения напряженности магнитного поля
действующего на дефект вблизи полюса магнита при контроле способом
приложенного поля а также небольшого фона помех т. к. перемещаемый по
поверхности ленты магнит равномерно намагничивает ее по всей площади.
Следует отметить что некоторые из описанных изобретений содержат ноу-
хау и поэтому наиболее эффективно могут быть реализованы при их
Установлено что максимальное значение тангенциальной составляющей
поля дефекта на поверхности образца может составлять от единиц 12 13 до
тысяч Асм 14 в зависимости от размеров дефектов высоты точки наблюдения
и напряженности намагничивающего поля. Расстояние Lx между экстремальными
значениями нормальной составляющей поля дефекта зависит от размеров
несплошности и в экспериментах составляло от долей 14 до единиц 12
миллиметра. Поле поверхностного дефекта появляется при очень малой
намагниченности ферромагнитного объекта контроля (близкой к нулю) и с
увеличением намагничивающего поля увеличивается 12 15. Результат
измерения поля дефекта зависит от напряженности намагничивающего поля
величины и формы дефекта магнитных свойств материала удаленности
преобразователя от поверхности исследуемого объекта 16.
Установлено что результаты измерений зависят от параметров
магнитного преобразователя. Кроме того на формирование поля несплошности
сильное влияние оказывает ее ширина. Так для щелей с малым раскрытием
(менее 002 мм) вид кривой Hdx (H0) напоминает вид основной кривой
намагничивания образца а с увеличением раскрытия (до 02 мм) зависимость
становится ближе к линейной 12 17.
Увеличение глубины щели приводит примерно к линейному росту Hd в
исследованном в 12 17 диапазоне размеров. Расстояние Lx между
экстремальными значениями нормальной составляющей поля дефекта сначала
растет быстро а затем медленнее 12. Напряженность намагничивающего поля
не оказывает существенного влияния на Lx 15. Кривая Hdx max (() имеет
максимум который достигается тем раньше чем меньше глубина щели высота
точки наблюдения и ниже режим намагничивания 14. Здесь ( – ширина щели. С
увеличением расстояния до точки наблюдения уменьшение Hdx max происходит
примерно по гиперболическому закону 15 18 а расстояние Lx в плоскостях
параллельных поверхности металла растет линейно 12 19. Напряженность
поля дефекта особенно сильно изменяется вблизи поверхности ферромагнитного
образца причем тем сильнее чем уже щель 14.
Поле над протяженным дефектом продольная ось которого направлена под
углом к внешнему намагничивающему полю претерпевает «преломление» и
ориентируется по нормали к наибольшему размеру дефекта 20. С увеличением
угла между вектором напряженности намагничивающего поля и нормалью к
плоскости дефекта «эффективность намагничивающего поля» резко падает.
Результаты полученные на изделиях с реальными дефектами показали
что они весьма близки к результатам полученным на объектах с
искусственными дефектами 2122.
Как было показано в 23 при намагничивании объекта контроля вместе с
уложенной на его поверхность магнитной лентой перемещаемым над
контролируемой зоной постоянным магнитом в формировании поля дефекта
участвуют как нормальная так и тангенциальная составляющие внешнего поля.
В силу этого чувствительность данного способа выше по сравнению с
традиционным. Однако описанный способ контроля подробно не исследован.
При обнаружении поверхностных и подповерхностных трещин предпочтение
следует отдавать магнитным методам контроля которые в этом случае обладают
наибольшей чувствительностью 24.
Таким образом анализ литературных источников позволил выявить
основные закономерности формирования полей наружных дефектов под влиянием
постоянного внешнего поля. Он также показал что способ магнитографического
контроля основанный на намагничивании объекта через уложенный на его
поверхность магнитоноситель является весьма перспективным однако
исследован недостаточно полно. Представленные ниже исследования касаются
именно этого способа.
Произведем расчет поля дефекта при намагничивании объекта контроля
исследуемым способом.
1 Расчет поля дефекта расположенного в ферромагнитном объекте на
следе перемещаемого постоянного магнита
Результаты исследований магнитных полей поверхностных дефектов типа
нарушения сплошности изделий из ферромагнитных материалов при
намагничивании их параллельным к поверхности ферромагнетика однородным
магнитным полем описаны в 25. В 26 расчет поля дефекта сделан для
случая когда внешнее поле направлено нормально к поверхности
ферромагнетика. При этом в 25 26 принято допущение что магнитная
проницаемость ферромагнетика постоянна и не зависит от величины поля. Такое
допущение приемлемо только при применении мощных намагничивающих устройств.
При намагничивании объекта с плотно прижатой к его поверхности
магнитной лентой перемещением постоянного малогабаритного магнита
непосредственно по поверхности ленты намагничивающее поле в зоне контроля
является существенно неоднородным. Если дефект смещен относительно
плоскости симметрии магнита то изменяются соотношения между нормальной и
тангенциальной компонентами напряженности Hо внешнего поля. Это
обстоятельство не учтено в 27. Расчет магнитного поля дефекта
осуществлялся на основании зависимостей полученных в 25 27 но без
учета расположения дефекта относительно плоскости симметрии
намагничивающего устройства. Наличие смещения учтено в 28 при анализе
магнитного поля поверхностного дефекта в ферромагнетике намагничиваемом
неоднородным полем создаваемым двумя бесконечно длинными магнитами.
В настоящей работе решается задача о магнитном поле поверхностного
дефекта при намагничивании контролируемого ферромагнитного изделия
перемещаемым над его поверхностью малогабаритным постоянным магнитом. В
расчетной модели (рисунок 3.1.1) приняты следующие допущения: источником
намагничивающего поля является бесконечно длинный магнит шириной 2а и
высотой L расположенный симметрично относительно начала координат на
расстоянии толщины ленты (() от поверхности ферромагнитного
полупространства имеющего магнитную проницаемость (=const. Высота магнита
гораздо больше его ширины (L>>2a).
Поверхностный дефект в виде бесконечно длинного прямоугольного паза
шириной 2b и глубиной h смещен относительно центра намагничивающей системы
–полубесконечное тело; 2–элементарные площадки на дне дефекта;
–магнит; (1 (2 (3 – плотности магнитных зарядов на поверхности
объекта боковых стенках и дне дефекта соответственно
Рисунок 3.1.1 – Расположение постоянного магнита относительно дефекта
Пусть магнит обращен к объекту гранью с одним полюсом. Примем
допущение что скорость перемещения магнита невелика поэтому можно
пренебречь возникающими в объекте контроля вихревыми токами. Нетрудно
видеть из рисунка 3.1.1 что на изделие действует внешнее поле Hо
направленное под углом к его поверхности.
Под действием нормальной составляющей напряженности намагничивающего поля
(Hоy) на поверхности полупространства и на дне дефекта образуются
отрицательные магнитные заряды с плотностью (1 и (3 соответственно. На
боковых гранях дефекта под действием тангенциальной составляющей (Hоx)
намагничивающего поля возникают магнитные заряды разных знаков +(2 и –(2
причем положительные заряды возникают на грани расположенной ближе к
началу координат. Плотность поверхностных зарядов ((xiyi) в произвольной
точке (xiyi) можно приближенно принять пропорциональной проекции вектора
Hо на нормаль к поверхности в данной точке (yi) 18. Допустим что
нормальная к боковым граням дефекта составляющая намагничивающего поля
постоянна и равна тангенциальной составляющей поля магнита в центре дефекта
Hо h2) тогда (2=k(Hоx(xоxh2). Для нижней грани дефекта примем
Hоn=Hоy(xоh)=const то есть (3=k(Hоy(xоh) определяется нормальной
составляющей намагничивающего поля в центре дна дефекта а (1=k(Hоy(a2 0)
определяется величиной Hоn в точке (a2 0) на поверхности изделия где
k–коэффициент зависящий от ( материала. Значения Hоx и Hоy в заданных
точках могут быть определены по методике 28 если Hо задано с помощью
магнитных зарядов (0 распределенных на торцах магнита.
Известно что напряженность поля dH i (рисунок 3.1.2) в некоторой точке
пространства A(xy) от заряженного элемента dxi имеет вид:
где ri– радиус–вектор от элемента dxi в точку A(xy).
Рисунок 3.1.2. Расчетная схема
Так как на магнитную ленту записывается тангенциальная составляющая H(
магнитного поля дефекта то определим ее путем суммирования H(i от действия
магнитных зарядов на каждом из участков расчетной модели (рисунок 3.1.2).
От (1 на горизонтальных участках полупространства при –((x1((xо–b) и
От (3 на дне дефекта при (xо–b)(x3((xо+b):
От зарядов ((2 на боковых гранях дефекта при 0(((h:
После интегрирования при (i=const в указанных пределах по xi и (
тангенциальная составляющая напряженности магнитного поля рассматриваемого
Полученное выражение для H(d согласуется с 28 если принять (1=(3 что
справедливо для дефектов с большим раскрытием 2b и малой глубиной h.
Основным препятствием для широкого практического применения
зависимости формулы (3.1.6) при расчетах H(d является сложность определения
составляющих Hox Hoy неоднородного приложенного магнитного поля а
вследствие чего и наведенных на поверхностях ферромагнитного
полупространства и дефекта зарядов (i.
На первом этапе для их определения были использованы результаты
экспериментальных исследований составляющих Hоn и Hо( первичного поля. В
частности для постоянного магнита большой высоты (L>>2a) модули нормальной
и тангенциальной составляющих приложенного поля в плоскостях x=(a
максимальны и примерно равны. Hоn незначительно изменяется по величине в
пределах –a(x(a а Hо( в этих же пределах x изменяется от –Hо( max до
+Hо( max приблизительно по линейному закону.
При расчетах принято что в пределах –a(
Hо где mH и mx –масштабы по осям H и x
соответственно Hо( max=Hоy.
Результаты расчетов H(d по выражению (3.1.6) для дефектов с
параметрами 2b=02 мм h= 002 мм при xо=–5 мм и xо=10 мм приведены на
При магнитографическом контроле на ленту записывается суперпозиция
тангенциальных составляющих приложенного поля и поля дефекта .
– 2–x0= 10 мм 2в =02 мм h
Рисунок 3.1.3 – Изменение тангенциальной составляющей поля дефекта
расположенного на различном расстоянии x0 от плоскости симметрии магнита
При расчетах следует ориентироваться на имеющийся магнит с конкретными
характеристиками. Так как на магнитную ленту записывается суперпозиция
внешнего магнитного поля и поля дефекта то чтобы определить напряженность
поля действующего на магнитную ленту в зоне дефекта к полученному
выражению (3.1.6) нужно добавить некоторую постоянную величину
определяемую напряженностью внешнего поля. Сигналограмма на экране
дефектоскопа приближенно пропорциональна производной dH(рdx. Поэтому
чтобы получить приближенное представление о виде сигналограмм на экране
дефектоскопа при обнаружении
На рисунке 3.1.4 показано изменение тангенциальной составляющей поля
дефекта в полубесконечном ферромагнитном теле находящегося на следе
перемещаемого постоянного магнита. Кривые построены по выражению (3.1.6)
для дефектов различного раскрытия и глубины. Из рисунка видно что с
увеличением ширины дефекта происходит увеличение по модулю тангенциальной
составляющей поля дефекта.
–ширина 2b дефекта 0004 мм глубина h дефекта 00008 мм; 2–2b = 004
мм h = 0008мм; 3– 2b=008мм h = 0016 мм; 4–2b=009мм
h=0018мм; 5–2b=0095мм h=0019 мм; 6–2b=01мм
h=002мм; 7–2b=02мм h=004мм; 8–2b=04мм h=002мм
Рисунок 3.1.4 – Изменение тангенциальной составляющей поля дефекта
находящегося на следе перемещаемого постоянного магнита в полубесконечном
–для дефекта шириной 2b=2мм глубиной h=02мм;
–для дефекта шириной 2b=8 мм глубиной h=16мм
Рисунок 3.1.5 – Вид сигналограмм согласно результатам расчетов
На рисунке 3.1.5 представлены расчетные сигналограммы полученные для
дефектов раскрытием 2b=2мм h=02мм и 2b=8мм h=08мм.
Результаты расчета проверялись экспериментально с использованием для
намагничивания в процессе магнитографического контроля постоянного магнита
шириной 2a=30мм и высотой L=143мм. Получено хорошее качественное
совпадение с результатами расчета.
Получена математическая зависимость и сделан расчет тангенциальной
составляющей поля поверхностного дефекта в виде щели при намагничивании
объекта перемещаемым над его поверхностью постоянным магнитом.
Теоретически показано и экспериментально подтверждено что сигнал
обусловленный моделью дефекта большого раскрытия при считывании записи с
ленты имеет практически симметричный вид с центральным углублением и двумя
отрицательными полуволнами.
2 Методика измерения слабых магнитных полей с помощью поляризованных
ленточных локальных магнитоносителей.
При магнитографической дефектоскопии ферромагнитных изделий весьма
часто возникает необходимость измерения напряженности поля у поверхности
объекта контроля. Задача осложняется тем что измеряемая напряженность поля
H иногда быстро убывает по мере удаления от объекта а применяемые в
преобразователях чувствительные элементы имеют сравнительно большие
поперечные сечения и позволяют определять лишь усредненное значение
величины H. Для устранения этого недостатка в 29 предложено применять в
качестве промежуточного носителя информации о магнитном поле ленточный
локальный магнитоноситель (ЛЛМ). Он представляет собой полоску магнитной
ленты шириной 15(2 мм и имеет толщину магнитоактивного слоя 5(25 мкм. ЛЛМ
слабо искажает величину измеряемого поля из–за небольшой массы
ферромагнетика обладает небольшой жесткостью и позволяет копировать
поверхность изделия без значительных местных неровностей. Предварительно
ЛЛМ градуируют в поле известной напряженности. Традиционная методика
предполагает использование размагниченных ЛЛМ и имеет существенный
недостаток: не позволяет измерять поля малой напряженности (до 03(04
величины коэрцитивной силы ЛЛМ) т.к. их запись происходит на участке
начального (обратимого) намагничивания. Чтобы устранить этот недостаток
предложено применять для измерения напряженности постоянного магнитного
поля поляризованные ЛЛМ (предварительно намагниченные причем не
обязательно до насыщения). До настоящего времени известно применение
поляризованных до насыщения магнитных лент только для целей дефектоскопии
Сказанное иллюстрируется рисунке 3.2.1 и 3.2.2. На рисунке 3.2.1
показана кривая перемагничивания ЛЛМ из нулевого состояния при измерении
поля напряженностью H1 в случае традиционной методики измерений. Как видно
из рисунка при уменьшении намагничивающего поля от Н1 до нуля ЛЛМ
приобретает остаточную намагниченность Mr1. Если же на предварительно
размагниченный ЛЛМ воздействовать полем H2(03(04)Hсл где Hсл –
коэрцитивная сила ЛЛМ то остаточная намагниченность Mr2=0.
В случае предварительного намагничивания (поляризации) ЛЛМ полем Hpp и
воздействии затем измеряемым полем напряженностью H1 противоположного
направления ЛЛМ приобретает остаточную намагниченность Mr1 и при малых
значениях H1 (рисунок 3.2.2).
Градуировку ЛЛМ производили в магнитном поле бесконечно длинного
соленоида (соленоид имел длину 1000 мм внутренний диаметр обмотки 80 мм и
наружный диаметр обмотки 100 мм). ЛЛМ наклеивали на текстолитовую
цилиндрическую штангу и помещали в среднюю часть катушки таким образом что
оси соленоида и ЛЛМ совпадали. Обмотку соленоида запитывали на 3 4 секунды
от источника постоянного тока создавая магнитное поле поляризации
конкретной напряженности. Затем ток в катушке отключали изменяли его
направление на противоположное и создавали в соленоиде измеряемое поле
рабочей напряженности. Определение напряженности магнитного поля в
соленоиде осуществляли с помощью микровольтампервеберметра Ф18. С этой
целью измеряли магнитный поток а затем напряженность поля вычисляли по
где Ф – магнитный поток пересекающий контур измерительной обмотки;
S – площадь контура;
w2 – количество витков измерительной обмотки.
Рисунок 3.2.1 – К пояснению традиционного способа измерения
Рисунок 3.2.2 – К пояснению предлагаемого способа измерения
ЛЛМ извлекали из соленоида и запись считывали индукционной головкой
магнитографического дефектоскопа МДУ–2У. По полученным данным строили
график зависимости амплитуды сигнала обусловленного изменением остаточного
магнитного потока при набегании индукционной головки на край ЛЛМ от
напряженности рабочего поля. В результате получено семейство градуировочных
характеристик для различных значений напряженности поля поляризации
(рисунок 3.2.3). Представленное на рисунке 3.2.3 семейство кривых построено
для магнитной ленты типа И4701–35. По экспериментальным результатам
получены градуировочные кривые для четырех режимов поляризации ленты 23
Рисунок 3.2.3 – Градуировочные характеристики поляризованного ЛЛМ
Рисунок 3.2.4 – Градуировочная характеристика размагниченного ЛЛМ
Как видно из рисунков если градуировочная характеристика
размагниченного ЛЛМ (рисунок 3.2.4) напоминает кривую намагничивания
ферромагнетика и располагается в первом квадранте системы координат АОН
где А – амплитуда сигнала Н – напряженность измеряемого поля то для
поляризованного ЛЛМ – в первом и четвертом квадрантах принимая
положительные нуль и отрицательные значения. Из рисунка 3.2.4 также видно
что по мере увеличения напряженности поля поляризации Hpp крутизна кривых
при низких напряженностях измеряемых полей а значит и чувствительность
метода измерения вначале возрастает а затем убывает достигая
максимального значения в диапазоне полей поляризации 112АсмHpp160 Асм.
При рассмотрении графиков (рисунок 3.2.3) может создаться ложное
представление о снижении чувствительности метода измерения в случае когда
амплитуда сигнала близка к нулю на том основании что амплитуда
измеряемого сигнала соизмерима с аддитивной погрешностью измерения этого
сигнала. Такую ошибку можно понять если обратить внимание на то что в
нашем случае производится косвенное измерение напряженности поля
функционально связанного с амплитудой сигнала. Аддитивная составляющая
погрешности измерения напряженности поля много меньше напряженности поля во
всем диапазоне изменений H кроме ее малых значений.
Применение поляризованных ЛЛМ позволит измерять не только слабые
магнитные поля но и поля изменяющие направление в процессе
Анализ литературных источников с целью разработки и модернизации
оборудования для контроля
Намагничивание контролируемой зоны гиба трубы может выполняться
двумя способами: последовательно отдельными участками расположенными по
длине или одновременно по всей длине гиба.
В обоих случаях намагничивающие устройства должны удовлетворять
следующим требованиям:
а) Напряженность приложенного поля должна намагничивать
контролируемую зону до состояния насыщения или даже несколько больше. При
этом уровень намагниченности контролируемого изделия должен находиться на
верхнем пологом участке кривой намагничивания соответствующем режиму
б) В местах перехода магнитного потока от полюсов устройства в
изделие потери его должны быть минимальными.
в) В случае если устройство предназначено для последовательного
намагничивания отдельных участков оно должно легко перемещаться по
поверхности изделия. При одновременном намагничивании всей длины гиба
устройство должно быстро и удобно устанавливаться (закрепляться) на
г) Для удобства в эксплуатации намагничивающее устройство должно
иметь меньший вес и потреблять минимальную мощность.
В практике магнитографического контроля получили применение
следующие типы намагничивающих устройств:
Дисковые магниты ДМ используемые для контроля листовых
конструкций и труб с толщиной стенки до 5—6 мм.
Подвижные намагничивающие устройства ПНУ применяемые при
контроле труб диаметром свыше 150 мм и листовых конструкций толщиной до 16
Дисковые магниты. Намагничивающее устройство ДМ — дисковый магнит
предназначенное для контроля листовых конструкций состоит из двух дисков
и соединяющего их стержня. На стержне размещена обмотка концы которой
выведены к зажимам изолированным от магнитопровода.
Токоподвод состоит из двух изолированных друг от друга скоб
имеющих втулки соединенные с концами обмотки. Для передвижения и
регулировки направления магнита по шву служит ручка внутри которой
пропущены провода присоединенные через регулирующее устройство (реостат)
к источнику питания.
Между дисками поверх защитного кожуха обмотки помещено кольцо из
мягкой резины предназначенное для прижима магнитной ленты к поверхности
шва. На корпусе магнита размещен также выключатель.
Питание дискового магнита производится через регулирующее
устройство состоящее из реостата и амперметра собранных в одном кожухе.
С помощью реостата устанавливается необходимый ток в зависимости от
толщины контролируемого металла.
Под условным термином «растекание» потока понимается уменьшение
индукции в контролируемом изделии непосредственно в месте расположения
намагничивающего устройства и на некотором расстоянии от его поперечной
Недостатком дисковых магнитов является то что они дают
значительное «растекание» потока магнитной индукции из-за линейного
контакта между полюсами намагничивающего устройства и объекта контроля
что существенно ухудшает условия образования и выявления полей дефектов
при магнитографическом контроле. Ухудшение условий намагничивания особенно
четко наблюдается при толщинах контролируемых изделий свыше 5–6 мм и
диаметрах труб менее 300 мм.
Подвижные намагничивающие устройства. B подвижных намагничивающих
устройствах ПНУ применен принцип одновременного создания однородного
магнитного потока на участке значительной протяженности.
Устройство состоит из двух стальных полюсов скрепленных стальными
сердечниками на которых размещаются одна или две катушки. Стальной каркас
с катушками опирается на четыре колеса из немагнитного материала
(дюралюминия). Колеса расположены таким образом что при установке
намагничивающего устройства на контролируемое изделие между колесами и
поверхностью изделия образуется воздушный зазор в 2—3 мм. На одном из
полюсов магнита размещены и клеммы токоподвода и пакетный выключатель.
В дальнейшем эти устройства были модернизированы путем уменьшения
расстояния между парами колес замены двух обмоток одной и внесения
некоторых конструктивных изменений. Благодаря этому модернизированные
устройства давали возможность намагничивать трубы в широком диапазоне
Для удобства эксплуатации величина воздушного зазора должна
обеспечивать свободное перемещение намагничивающего устройства через
усиление шва. Из–за того что воздушный зазор составляет примерно 1..15
мм возникает достаточно большое магнитное сопротивление и как следствие
достаточно большое рассеивание магнитного потока. Опыты показали что
значительное уменьшение индукции (свыше 5–6%) вследствие «растекания»
потока имеет место при смещении намагничивающего устройства ПНУ от места
расположения дефекта свыше 60—70 мм. Поэтому с учетом небольшого запаса
длина полюсов устройства должна быть не менее 160—200 мм.
При определении сечения магнитопровода длина полюсов
намагничивающего устройства исходя из результатов экспериментов по
определению «растекания» потока принимается равной 150—200 мм высота
полюсов выбирается из конструктивных соображений а длина сердечника
равная расстоянию между полюсами определяется шириной магнитной ленты для
магнитографического контроля (35 мм) и удобным для эксплуатации
расстоянием между полюсами магнита и краями ленты.
К минусам подвижных намагничивающих устройств можно отнести также
недостаточно большую индукцию в контролируемом сечении.
Рассмотрим устройство для контроля продольных сварных швов.
– Бесконечная магнитная лента;
– расходуемая кассета;
– накопительная лента;
– размагничивающее устройство;
– основная магнитная лента.
Рисунок 4.1 – Устройство для контроля продольных сварных швов
Устройство перемещают по поверхности намагниченного объекта 6 при
этом магнитные поля рассеивания записываются на бесконечную ленту 5.
Благодаря копирующему эффекту запись с этой ленты переносится на ленту 7.
Компоновка расчет и разработка оборудования для контроля
1 Определение оптимального режима намагничивания
По данным таблицы 1 5 строим кривую намагничивания материала
контролируемого изделия В=f(H).
Рисунок 5.1.1 – Кривая намагничивания стали 20
Построим зависимость (=f(B).
Расчет оптимального режима намагничивания сводится к определению
максимального приращения производной на падающей(правой) ветви кривой
В=f(H) (Рисунок 5.1.1). Простейший способ найти [pic]– заменить табличные
значения функции (=f(B) (Рисунок 5.1.2) соответствующим интерполяционным
многочленом [pic] где a b c d – неизвестные коэффициенты.
Чтобы определить bср и аср можно воспользоваться методом наименьших
квадратов или решить ряд систем уравнений подставляя численные значения В
Вычислив [pic] и [pic] и подставив в (5.1.3) получим значение
Следует отметить что расчетное значение [pic] ниже значения
полученного экспериментально на 10 20% тогда в нашем случае
2 Выбор типа магнитной ленты для магнитографического контроля
Известен оптимальный режим намагничивания ([pic]=155) и кривая
намагничивания материала изделия.
Для получения широкого диапазона характеристики ленты рекомендуют
использовать ленту такого типа чтобы ее рабочая точка А совпадала с
начальной точкой крутого возрастающего участка характеристики ленты
Напряженность поля требуемая для намагничивания ленты до указанной точки
приблизительно равна ее коэрцитивной силе.
Рисунок 5.2.1 – Характеристика магнитной ленты
Поэтому для выбора типа ленты по кривой намагничивания материала
определяют напряженность поля требуемую для получения [pic] (в нашем
случае [pic]=1400 Асм). Так как составляющая вектора напряженности поля
параллельная границе раздела сред имеет по обе стороны границы одинаковые
значения а ферромагнитный слой ленты находится практически у самой
поверхности то на ленту в ее плоскости воздействует поле напряженностью
[pic]. Это поле смещает рабочую точку характеристики ленты. По таблице Г.2
выбираем магнитную ленту И4701–35 с коэрцитивной силой [pic]80(Асм)
3 Определение оптимального расстояния от НУ до магнитной ленты
Для определения оптимального расстояния от намагничивающего устройства
(постоянного магнита) до магнитной ленты был проведен ряд экспериментов.
При этом магнитная лента укладывалась непосредственно на объект(на
растянутую зону гиба на наружной поверхности трубы) вдоль оси гиба. Было
исследование влияние расстояния от магнита до объекта контроля на значение
отношения сигналшум. При этом перемещение магнита производилось как вдоль
оси гиба трубы так и поперек.
При этом были получены результаты по которым построены графики
значений отношения сигналшум при продольном и поперечном перемещении
постоянного магнита вдоль оси гиба трубы. Графики представлены на рисунках
Рисунок 5.3.1 – Зависимость отношения сигналшум от расстояния от
магнита до ОК при перемещении магнита вдоль оси гиба трубы
Рисунок 5.3.2 – Зависимость отношения сигналшум от расстояния от
магнита до ОК при перемещении магнита поперек оси гиба трубы
При поперечном перемещении магнита относительно оси гиба трубы
вследствие того что размеры постоянного магнита небольшие а лента имеет
большую длину то при перемещении магнита необходимо чтобы следующая зона
перекрывалась с предыдущей. Однако вследствие того что на краю магнита
нормальная составляющая поля направлена вверх происходит размагничивание
участка ленты а следовательно и уменьшение амплитуды сигнала от дефекта
записанного на ленту (рисунок 5.3.3).
Рисунок 5.3.3 – Направление поля магнита
В связи с этим было проведено исследование влияния расстояния от
магнита до ОК на величину падения амплитуды сигнала. По результатам
построен график (рисунок 5.3.4).
На рисунке: 1 – график изменения амплитуды сигнала в зависимости от
расстояния а 2 – график изменения падения амплитуды сигнала от расстояния
от магнита до поверхности объекта.
Исходя из всего изложенного можно сделать заключение о том что
оптимальным расстоянием от магнита до объекта контроля будет являться
Описание устройства для контроля и принципа его действия
Для магнитографического контроля гибов труб разработано подвижное
намагничивающее устройство представленное на чертеже ЭМК 11.00.00.00 СБ.
Устройство состоит из двух катушек для магнитной ленты которые
также выполняют функцию колес для перемещения намагничивающего устройства
по поверхности гиба трубы. Для намагничивания используется постоянный
магнит который подвешен на пружинах и при помощи установочного винта
регулируется зазор между магнитом и объектом контроля. Для прижатия
магнитной ленты к поверхности гиба трубы используются подпружиненные
Для предотвращения саморазматывания катушек с магнитной лентой
устанавливаются специальные гайки которые при закручивании зажимают
катушки через резиновые прокладки.
Для удобства переноса и перемещения намагничивающего устройства
вдоль оси гиба трубы на нем закреплена рукоятка.
Разработка методики контроля
Произвести внешний осмотр гиба очистить его от грязи брызг и т.д. и
отметить места недопустимых наружных дефектов.
Подготовить к контролю магнитную ленту (намотать на катушку)
предварительно размагнитив.
Образец уложить на наружную выпуклую поверхность гиба трубы.
Установить устройство для поперечного намагничивания образца на трубу
и намагнитить контролируемый гиб (после намагничивания гиба необходимо
зажать гайки во избежание самораскручивания катушек с магнитной
лентой). Затем проделать тоже самое с другими гибами отметив участки
контроля на ленте (привязка ленты).
Извлечь магнитную ленту из устройства и считать на дефектоскопе запись
(дефектоскоп предварительно настроить по эталонной магнитной ленте).
Если амплитуда сигнала от дефекта превышает браковочный уровень то
дефект считать недопустимым. Отметить места соответствующие
недопустимым дефектам на ленте и перенести указанные отметки на
поверхность соответствующего контролируемого гиба по предварительно
сделанной привязке ленты.
Разработка метрологического обеспечения средств контроля
Метрологическим обеспечением называют установление и применение
научных и организационных основ технических средств правил и норм
необходимых для достижения единства и требуемой точности измерения.
Для настройки чувствительности дефектоскопов используются
испытательные образцы и контрольная магнитограмма. Испытательные образцы
служат для изготовления контрольных магнитограмм.
Испытательные образцы должны быть изготовлены для каждой толщины
объекта контроля и марки стали листов качество которых подлежит контролю
магнитографическим методом. Если на данном объекте контроля применяются
металлические листы различной поставки но из стали с одинаковыми или
близкими структурами химического состава и магнитными свойствами то
изготавливается один общий испытательный образец для полотнищ из этих
сталей с одинаковой толщиной.
Глубину искусственных дефектов выбирают равной минимальному
браковочному уровню для заданной толщины объекта контроля в соответствии с
требованиями. На поверхности испытательного образца должны быть отмечены
краской расположение и границы участков имеющих дефекты с указанием вида
и величины этих контрольных дефектов. Каждый испытательный образец должен
быть проверен и принят комиссией.
Контрольная магнитограмма служит для настройки чувствительности
дефектоскопов. Контрольные магнитограммы записывают на испытательных
образцах путем намагничивания их теми же устройствами и при тех же
режимах которые применяются для контроля сварных образцов.
Для изготовления контрольной магнитограммы используют магнитную
ленту того же типа что и при неразрушающем контроле изделий. При каждой
смене партии магнитной ленты должна быть изготовлена новая контрольная
магнитограмма из новой партии ленты. На магнитограмме должны быть отмечены
- границы участков с указанием вида и величины дефектов;
- толщины основного металла и испытательного образца;
- режим намагничивания.
Если амплитуда сигнала обусловленного дефектом в контролируемом
изделии превышает браковочный уровень то дефект считают недопустимым.
Настройку чувствительности магнитографического дефектоскопа следует
проводить перед каждым началом работы с ним.
Мероприятия по охране труда
При работе на магнитных дефектоскопах необходимо соблюдать следующие
) Дефектоскоп должен быть надежно заземлен. В цепи заземления
категорически запрещается устанавливать предохранители или выключатели а
также использовать провода заземления в качестве токоведущих для рабочего
) Штепсельное соединение должно быть выполнено с тремя контактами из
которых два соединяют с питающей сетью а один с заземляющим проводом. Если
дефектоскоп присоединяется к питающей сети с помощью штепсельной вилки а
заземление осуществляется третьим проводом с кабельным наконечником то
заземляющий провод должен быть надежно присоединен к клемме заземления.
) Запрещается прикасаться к неизолированным токоведущим частям
находящимся под напряжением независимо от его величины. Перед зажатием
детали в зажимном устройстве дефектоскопа для ее циркулярного
намагничивания необходимо поверхность контакта тщательно очистить от
загрязнений масла керосина и т.д. Необходимо следить за чистотой медных
стержней не допускать применение стержней с забитыми торцами.
) При каждом даже кратковременном перерыве в работе а также при
переходе с одного рабочего места на другое дефектоскоп должен быть
отключен от питающей сети.
) Вблизи дефектоскопа нельзя хранить легковоспламеняющиеся вещества:
бензин ацетон и т.д. Запрещается применять открытый огонь.
) Рядом с дефектоскопами необходимо иметь углекислотноснежные
) Работа на дефектоскопе разрешается только специалистам обученным
магнитному контролю и знающим устройство дефектоскопа и правила работы на
Анализ литературных источников показал что наиболее приемлемым для
контроля гибов труб является магнитографический метод.
Проведя расчет оптимального метода намагничивания получили
значение магнитной индукции ВОПТ=155 Тл.
Источником информации о объекте контроля является магнитная лента
И4701 – 35 с коэрцитивной силой HC = 80 Асм = НТР.
Разработано устройство для продольного намагничивания гибов труб.
Магнитографический метод контроля основанный на намагничивании
объекта через уложенный на его поверхность магнитоноситель и анализе
считываемой записи с магнитной ленты на дефектоскопе позволяет
обнаруживать в объектах с естественными дефектами трещины раскрытием от 5
Список использованных источников
Неразрушающий контроль: Практ. Пособие Т2 Под ред. В. В.
Сухорукова. М: Высш. шк. 1991. – 283 с.; ил.
Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий: справ.
Т.2 под ред. В. В. Клюева. – М. Машиностроение 1986.: ил.
Ермолов И. Н. Методы и средства неразрушающего контроля качества
И. Н. Ермолов Ю. Я. Останин. – М.: Высшая шк. 1988. – 386с.:ил
Неразрушающий контроль. В 5 кн. Кн.3. Электромагнитный контроль
В.Г.Герасимов А.Д.Покровский В.В.Сухоруков. – Мн.: Вышэйшая школа 1992.
Приборы и методы электромагнитного контроля. Методические указания
к курсовой работе для студентов специальности Т 06.01 – “Приборостроение”.
– Могилев 2001. – 28с.
Неразрушающий контроль материалов и изделий: Справочник. Под ред.
Г.С.Самойловича. – М.: Машиностроение 1976. – 456с.:ил.
Фалькевич А.С. Магнитографический контроль сварных соединений А.С.
Фалькевич М.Х. Хусанов.– М.: Машиностроение 1966.
А.с. 1506346 СССР МКИ5 G01 N 2785. Способ магнитографического
контроля стыковых сварных соединений В.А. Новиков (СССР).–
№423026925–28; Заявлено 27.01.87; Опубл. 07.09.89 Бюл.№ 33.– 6 с.: ил.
А.с. 1534380 СССР МКИ5 G01 N 2785. Способ магнитографического
контроля изделий из ферромагнитных материалов В.А. Новиков Л.В.
Кублицкая Т.М. Киселева (СССР).– №441423425–28; Заявлено 25.04.88; Опубл.
01.90 Бюл.№1.– 6 с.: ил.
А.с. 1633349 СССР МКИ5 G01 N 2785. Способ магнитографического
контроля В.А. Новиков (СССР).– №461751128; Заявлено 08.12.88; Опубл.
03.91 Бюл.№9.– 6 с.: ил.
А.с. 1567964 СССР МКИ5 G01 N 2785. Способ магнитного контроля
изделий В.А. Новиков (СССР).– №430174724–21; Заявлено 02.09.88; Опубл.
05.90 Бюл.№20.– 6 с.: ил.
Зацепин Н.Н. О некоторых особенностях топографии магнитного поля
рассеяния поверхностных дефектов в ферромагнитных телах Н.Н. Зацепин
В.Е. Щербинин Неразрушающие методы контроля материалов и изделий.–
М.:ОНТИПРИБОР 1964.– С.271–274.
Новикова И.А. Исследование полей искусственных открытых дефектов в
однородном постоянном поле И.А. Новикова Н.В. Мирошин
Дефектоскопия.–1973.–№3.– С.95–101.
Сапожников А.Б. Исследование магнитных полей рассеяния от
искусственных открытых дефектов А.Б. Сапожников П.Н. Большаков Тр.
СФТИ.–Свердловск 1947.–С.245–254.
Новикова И.А. Экспериментальные исследования магнитостатических
полей рассеяния от поверхностных дефектов Тр. СФТИ.–Свердловск
Forster F. Еditorial descrption of the first presentation of
magnetograpy in a lectyre on measurement and testing in prodyktion at
Stuttgart in 1950. Jndystrierundschau 1951. N6 p.58.
Щербинин В.Е. Исследование возможности селективного выявления
нарушений сплошности в ферромагнитных изделиях феррозондовым методом:
Дис канд. техн. наук: 01.04.11.– Защищена 25.10.67; Утв. 27.04.68;
225315783 Свердловск.1967.–150 с.: ил.
Новикова И.А. Лабораторный прибор для измерения плоскопараллельных
полей Тр. СФТИ.–Свердловск 1970.–С.141.
Зацепин Н.Н. Метод приложенного поля при феррозондовом контроле
трудных заготовок на поверхностные дефекты Н.Н. Зацепин В.Е. Щербинин
Дефектоскопия.–1965.–№1.–С.28–32.
Кашуба Л.А. Исследование воспроизведения записи полей рассеяния от
дефектов разной ориентации при магнитографической дефектоскопии
Исследование по физике металлов неразрушающим методам контроля: Сб. научн.
статей.–Мн: Наука и техн 1968.–С.133–141.
Халилеев П.А. Прибор для магнитного контроля сварных и литых
изделий П.А. Халилеев В.С. Обухов Заводская лаборатория.–1937.– №10.–
Щербинин В.Е. Влияние границ изделия на величину поля дефекта
В.Е. Щербинин А.И. Пашагин Дефектоскопия.–1976.–№2.–С. 85–89.
Ковальков А.А. Чернышевич А.В. Выявляемость моделей дефектов в
образцах намагничиваемых перемещаемым над зоной контроля постоянным
магнитом магнитографическим методом 38-я студенческая научно-
техническая конференция: материалы конференции 22-25 мая 2002 г.- Могилев
Неразрушающий контроль. В 5 кн. Кн. 3. Электромагнитный контроль:
Практ. пособие В.Г. Герасимов А.Д. Покровский В.В. Сухоруков; Под ред.
В.В. Сухорукова. – М.: Высш. шк. 1995. –312с.:ил.
Зацепин Н.Н. К расчету магнитостатического поля поверхностных
дефектовН.Н Зацепин В.Е.ЩербининДефектоскопия.– 1966.– №5.– С.50–65.
Гусев А.П. Магнитное поле дефекта при нормальном намагничивании.
А.П. Гусев Н.Н. Зацепин Весцi АНБ сер. фiз.-тэхн. навук.– 1982 №3
Кушнер А.В. Формирование поля дефекта при намагничивании объекта
перемещаемым над ним постоянным магнитом А.В. Кушнер В.А. Новиков
Создание и применение высокоэффективных наукоемких ресурсосберегающих
технологий машин и комплексов: Тез. докл. Междун. науч.-техн. конф.–
Могилев 2001.–С.351–352.
Гусев А.П. Магнитное поле поверхностного дефекта при
намагничивании ферромагнетика неоднородным полем магнитов.А.П. Гусев П.Н.
Поярков Дефектоскопия.– 1992 №11 С.71–75.
Козлов В.С. Техника магнитографической дефектоскопии.– Мн.:
Вышэйшая школа 1976.–280 с.: ил.
Применение постоянных магнитов для обнаружения реальных дефектов в
объектах с плоской поверхностью магнитографическим методом: Отчет о НИР
(заключительный) МГТУ; Руководитель В.А.Новиков. – ГБ 031Ф; №ГР20023722. –
Могилев 2002. – 36 с.: ил. (исполнители Ковальков.А.А. и Чернышевич А.В.).